Szum jest wszechobecny, przebiegi przypadkowe, szczególnie typu 1/f występują np. jako rozkład chropowatości powierzchni, w zjawiskach chemicznych typu elektromigracja, korozja, jako rozkład nieróności dróg, w muzyce. Celowe jest więc poznanie istoty ich pochodzenia, a następnie umiejętne wykorzystanie informacji w nich zawartych.

Książka "Szumy z zakresu małych częstotliwości. Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych" pomoże zrozumieć zagadnienia pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych w zakresie małych częstotliwości, a także zastosować szum własny do oceny jakości przyrządów.

Przy pomiarach parametrów i charakterystyk szumowych trzeba pamiętać o przypadkowym charakterze mierzonych szumów i wynikających z tego konsekwencji przy ich ocenie.

Zagadnienia pomiarów szumów poprzedzono skrótowym przeglądem różnych rodzajów szumów, zarówno wąsko- jak i szerokopasmowych. Wszystkie zagadnienia pomiaru i oceny jakości na podstawie szumów własnych omówiono na przykładzie przyrządów półprzewodnikowych.

Należy podkreślić, że wszystkie przytoczone metody pomiaru oraz metodyka oceny jakości na podstawie szumów własnych mogą być zastosowane do większości elementów elektronicznhych, a także do oceny przebiegu fluktuacyjnych, o charakterze szumów z zakresu małych częstotliwości, ujawniających się także w różnych sytuacjach w innych dziedzinach i mogących towarzyszyć zjawiskom fizycznym, chemicznym i mechanicznym.

W książce omówiono również typowe moduły systemów do pomiaru szumów z zakresu małych częstotliwości ze wskazówkami, jak zrealizować system pomiarowy, określony wybraną metodą pomiaru.

Zagadnienia metodyki oceny jakości zilustrowano przykładami badań przyrządów półprzewodnikowych: tranzystorów, diod, transoptorów.

Przytoczono oryginalną metodę rozpoznawania w sygnale przypadkowym szumów wybuchowych.Książka jest pierwszą pozycja na polskim rynku wydawniczym, zawierającą opis metodyki oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości. Jak zaznaczono, metodyka ta może być stosowana dla wielu różnych elementów elektronicznych.

Książka jest adresowanaw do studentów starszych lat studiów I i II stopnia, uczestników studiów doktoranckich oraz inżynierów i pracowników naukowych zajmujących się pomiarami bardzo małych sygnałów lsoowych z zakresu małych częstotliwości. Będzie przydatnaa elektronikom, fizykom, chemikom, mechanikom.

Rozdziały:

1. Ocena jakości elementów elektronicznych na podstawie pomiarów szumów z zakresu małych częstotliwości

2. Źródła szumów przyrządów półprzewodnikowych

2.1. Powiązania między szumami z zakresu małych częstotliwości przyrządów półprzewodnikowych a ich jakością
2.2. Szum cieplny
2.3. Szum śrutowy
2.4. Szum generacyjno-rekombinacyjny
2.5. Szum 1/f
2.6. Szum 1/f2
2.7. Szum wybuchowy
2.8. Szum lawinowy
2.9. Podsumowanie

3. Metody pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych w zakresie małych częstotliwości

3.1. Ocena statystyczna parametrów i charakterystyk procesu przypadkowego
3.2. Parametry i zależności funkcyjne (charakterystyki) określające właściwości szumowe w zakresie małych częstotliwości przyrządów półprzewodnikowych
3.3. Określenie warunków pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych
3.4. Metody stosowane do pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych w zakresie małych częstotliwości
3.5. Podsumowanie dotyczące metod pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych

4. Systemy do pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych w zakresie małych częstotliwości

4.1. Ogólne zasady podziału systemów i ich projektowania
4.2. Moduły systemu pomiarowego
4.3. Podsumowanie

5. Metody klasyfikacji przyrządów półprzewodnikowych do grup o zróżnicowanej jakości

5.1. Ogółne zasady klasyfikacji
5.2. Badania wstępne
5.3. Szumowy wskaźnik jakości
5.4. Oszacowanie poziomu szumów naturalnych i poziomu szumów nadmiarowych
5.5. Reguły decyzyjne, wyznaczenie wartości progowych szumowego wskaźnika jakości
5.6. Weryfikacja doboru szumowego wskaźnika jakości
5.7. Analiza szumów wybuchowych, możliwości identyfikacji przyrządów półprzewodnikowych generujących szumy wybuchowe (szum RTS)

6. Przykładowe wyniki badań przyrządów półprzewodnikowych

6.1. Ocena powiązań między poziomem szumów 1/f złącz bipolarnych tranzystorów mocy a jakością tranzystorów
6.2. Ocena powiązań między poziomem szumów 1/f diod mocy a ich napięciem przebicia
6.3. Ocena szumów RTS transoptorów

7. charakterystyka różnych obiektów i zjawisk na podstawie oceny przebiegów przypadkowych w zakresie małych częstotliwości

8. Uwagi końcowe

Dodatki:

D1. Estymatory parametrów lub charakterystyk szumowych
D2. Sposoby uśredniania stosowane przy estymacji funkcji gęstości widmowej mocy przebiegu szumowego
D3. Oszacowanie funkcji gęstości prawdopodobieństwa