Księgarnia naukowo-techniczna styczna.pl

Księgarnia naukowo-techniczna
styczna.pl

 


Zaawansowane wyszukiwanie
  Strona Główna » Sklep » Historia » Historia państw » Moje Konto  |  Zawartość Koszyka  |  Do Kasy   
 Wybierz kategorię
Albumy
Architektura
Beletrystyka
Biochemia
Biologia
Biznes
Budownictwo
Chemia
Design DTP
E-biznes
Ekologia i środowisko
Ekonometria
Ekonomia Finanse
Elektronika
Elektrotechnika
Encyklopedie
Energetyka
Fizyka
Fotografia
Geografia
Historia
  Archeologia
  Bitwy Wojny
  Historia
  Historia Europy
  Historia państw
  Historia Polski
  Historia Rosji
  Historia Związku Radzieckiego
  II Wojna Światowa
  Starożytność
  Średniowiecze
  Władcy i głowy państw
Informatyka
Maszynoznawstwo
Matematyka
Medycyna
Motoryzacja
Polityka
Popularnonaukowe
Poradniki
Prawo
Słowniki
Sport
Sztuka
Technika
Telekomunikacja
Turystyka
Zarządzanie jakością

Zobacz pełny katalog »
 Wydawnictwo:
 Czelej
Metody diagnostyczne w dermatologii, wenerologii i mikologii lekarskiej Tom 2

Metody diagnostyczne w dermatologii, wenerologii i mikologii lekarskiej Tom 2

97.00zł
82.45zł
Uchodźcy w Afryce. Etnografia przemocy i cierpienia 57.00zł 48.45zł
Uchodźcy w Afryce. Etnografia przemocy i cierpienia

Tytuł: Uchodźcy w Afryce. Etnografia przemocy i cierpienia
Autor: Maciej Ząbek
ISBN: 978-83-235-3618-5
Ilość stron: 504
Data wydania: 01/2019
Format: 17.0x24.0cm
Wydawnictwo: Wydawnictwo Uniwersytetu Warszawskiego

Cena: 57.00zł 48.45zł


Publikacja zawiera krytyczną analizę uwarunkowań uchodźstwa afrykańskiego wraz z całym nieskutecznym systemem ochrony i pomocy humanitarnej. Praca etnograficzna w sensie metody oraz opisu różnych sfer przemocy i cierpienia, opowiada historie ludzi, których łączy doświadczenie wykluczenia, stresu, bycia w drodze, bezdomności i nadziei na lepsze jutro.

Autor problematyzuje wszystkie aspekty związane z uchodźstwem, zastanawia się zarówno nad jego przyczynami, jak i dotychczasowymi nieudanymi próbami rozwiązania tego problemu, proponuje ponowne przemyślenie istoty współczesnego humanitaryzmu uwikłanego w sprzeczności i bezradnego wobec cierpień, które ma na celu usuwać.

Tytuł książki: "Uchodźcy w Afryce. Etnografia przemocy i cierpienia"
Autor: Maciej Ząbek
Wydawnictwo: Wydawnictwo Uniwersytetu Warszawskiego
Cena: 57.00zł 48.45zł
Klienci, którzy kupili tę książkę, kupili także
Prawo autorskie i prawa pokrewne
Prawo autorskie i prawa pokrewne
Janusz Barta Ryszard Markiewicz
Wolters Kluwer
Finale edytor nutowy nie tylko dla profesjonalistów
Finale edytor nutowy nie tylko dla profesjonalistów
Piotr Kołodziej
HELION
Nurkowanie bez strachu Porady, technika oddychania, ćwiczenia
Nurkowanie bez strachu Porady, technika oddychania, ćwiczenia
Monika Rahimi
Alma Press
Wybrane problemy współczesnej rodziny
Wybrane problemy współczesnej rodziny
Anna Przygoda
Adam Marszałek
Przestrzenie Teorii 17/2012
Przestrzenie Teorii 17/2012
praca zbiorowa
WNU im. A. Mickiewicza
Judaizm
Judaizm
Rocca Roberto Bella, Luzzati Sonia Brunetti
Arkady
 Koszyk
0 przedmiotów
Wydawnictwo
Tu można zobaczyć wszystkie książki z wydawnictwa:

Wydawnictwo Uniwersytetu Warszawskiego
 Kategoria:
 Geografia
Geografia Zadania Matura poziom podstawowy i rozszerzony

Geografia Zadania Matura poziom podstawowy i rozszerzony

30.50zł
22.88zł
Informacje
Regulamin sklepu.
Koszty wysyłki.
Polityka prywatności.
Jak kupować?
Napisz do Nas.
 Wydawnictwa
 Polecamy
OpenGL Księga eksperta Wydanie V Richard S. Wright, Jr., Nicholas Haemel, Graham Sellers, Benjamin Lipc HELION
OpenGL w praktyce Janusz Ganczarski BTC
Anatomia człowieka Tom 1-5 Komplet Adam Bochenek, Michał Reicher PZWL
Anatomia zwierząt Tom 2 Narządy wewnętrzne i układ krążenia Wydanie 3 Kazimierz Krysiak, Krzysztof Świeżyński PWN
Fizyka współczesna Paul A. Tipler Ralph A. Llewellyn PWN
Autodesk Inventor Professional /Fusion 2012PL/2012+ Metodyka projektowania z płytą CD Andrzej Jaskulski PWN
MERITUM Podatki 2018 Aleksander Kaźmierski Wolters Kluwer
Słownik naukowo-techniczny angielsko-polski Wydanie XII Red. M.Berger, T.Jaworska, A.Baranowska, M.Barańska WNT
Matematyka konkretna Wydanie 4 Ronald L. Graham, Donald E. Knuth, Oren Patashnik PWN